高低温环境试验箱

半导体老化测试chamber构建技术：宽温域测试箱的制冷架构与动态调节系统

在半导体器件的研发与生产过程中，老化测试是评估其长期可靠性的关键环节。宽温域老化测试chamber作为模拟苛刻环境的核心设备之一，需在大范围温度区间内实现准确控制，以复现器件在实际使用中可能遭遇的苛刻条件...