KSD 接触式高低温测试机

芯片研发测试：KSD 接触式高低温测试机应用指南

芯片研发阶段需要完成设计阶段温度摸底、样品性能初测、ji限温区特性采集，KSD 系列接触式高低温测试机凭借宽温区、高速温变、样品直测等特性适配研发实验室场景。本文梳理研发流程选型、设备使用全流程规范。 ...