无锡冠亚恒温
冠亚恒温小编说明 GD-518-A-DC 型号芯片老化测试箱的参数与应用。该型号温度范围为常温 + 10℃至 + 150℃，适配中高温区间的芯片老化测试，覆盖消费电子、通信、工业控制等多数常温工作芯片场景。
内箱尺寸为 60×138×65cm，采用立式结构，空间利用率高，便于样品放置与布线。标准配置 24 层 10kW 负载，层数可定制，适配中小功率芯片批量老化，如 MCU、传感器、存储芯片、模拟器件等。
温度性能：升温速率为常温 + 10℃至 + 125℃线性 2℃/min；降温速率为 + 125℃至常温 + 10℃线性 2℃/min，可快速完成升温与降温过程，适配温度循环与高温老化组合测试。出风口控温精度≤±0.1℃，满载均匀度≤±3℃，保证测试环境稳定。
制冷方式为单级制冷，结构简洁、运行稳定、维护便捷，适配中高温区间制冷需求。加热采用电加热，响应快、控制精度高，配合强制循环风道，温度分布均匀。
控制系统采用分段模糊 PID 算法，支持多段温度曲线编程，可设定升温、恒温、降温阶段参数，模拟开关机、连续高温工作、间歇性负载等工况。通讯接口支持数据导出与远程监控，便于测试追溯与分析。
安全配置包括加热器双温保护、制冷系统保护、电器保护等，保障长时间运行安全。执行标准涵盖 GB/T 2423.1 等行业规范，适配半导体行业常规老化测试要求。
GD-518-A-DC 以中高温区间稳定、负载适中、操作便捷的特点，适合常规芯片批量老化验证，是应用广泛的基础型号。
