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冠亚恒温小编介绍 GD-518-A-2-DC 双腔体芯片老化试验箱的结构与优势。该型号为左右独立腔体设计，每个腔体尺寸 60×138×65cm，可独立设置温度、时间与负载，实现两种不同条件同步老化。
温度范围为常温 + 10℃至 + 150℃，两腔体温度可独立设定，适配不同温度需求的并行测试。例如一侧执行 125℃高温老化，另一侧执行 85℃偏置老化，提升测试效率、缩短项目周期。
每个腔体标配 24 层 10kW 负载，可同时放置不同类型芯片或不同批次样品，独立控制负载供电，避免相互干扰。双腔体结构节省空间与能耗，相比两台单腔体设备，占地面积更小、运行成本更低。
温控性能与单腔体型号一致：升温速率常温 + 10℃至 + 125℃线性 2℃/min，降温速率 + 125℃至常温 + 10℃线性 2℃/min；出风口波动度≤±0.1℃，均匀度≤±3℃，两腔体均保持独立稳定控温。
控制系统支持双腔体独立编程，可分别设定温度曲线、运行时间与循环次数，满足复杂并行测试需求。风道与制冷加热系统独立配置，减少腔体间热干扰，保证各自温度稳定。
安全保护机制覆盖双腔体，各腔体独立监测温度、电流与系统状态，异常时独立报警停机，不影响另一腔体正常运行。
GD-518-A-2-DC 双腔体设计兼顾效率与灵活性，适合多项目并行、多条件对比、多批次同步老化场景，提升实验室测试能力与资源利用率。
